Investigador do Politécnico de Viana do Castelo entre os melhores do mundo
Gaspar Rego, professor do Politécnico de Viana do Castelo, investigador da Unidade de Investigação proMetheus do IPVC e do INESC TEC, está entre os cientistas mais citados a nível mundial, posicionando-se entre os 1% melhores do mundo na área de Optoelectrónica e Fotónica. O ranking, considerado o de maior prestígio mundial, foi publicado pela Universidade de Stanford (EUA) em conjunto com a editora holandesa Elsevier BV, tendo em conta mais de 186.000 investigadores, distribuídos por 22 domínios científicos e 176 subdomínios.
A World’s Top 2% Scientists list é desenvolvida por um grupo de peritos e fornece informações padronizadas, entre outros, sobre citações e índice h, tendo como finalidade a criação de uma base de dados disponível ao público, de forma a permitir reproduzir os cálculos dos indicadores e combater os abusos da sua utilização. O ranking alicerçou-se na Scopus (base de dados de referência para a FCT), utilizando dados de mais de 8 milhões de cientistas considerados ativos em todo o mundo.
Esta listagem (https://elsevier.digitalcommonsdata.com/datasets/btchxktzyw/3) realça o mérito científico e permite aferir o impacto ao longo da carreira (contabiliza as publicações até 2020) e nela constam 480 investigadores com afiliação nacional, 12 dos quais pertencentes a 6 politécnicos. Gaspar Rego é também um dos 11 investigadores do INESC TEC referenciados no ranking.
Após um interregno de 5 anos, em que o docente desempenhou o cargo de Presidente do Conselho Técnico-Científico do Instituto Politécnico de Viana do Castelo, o regresso à investigação concretiza-se com a publicação de 4 artigos científicos em dois números especiais da prestigiada revista Sensors, dos quais foi editor. Tal desempenho, num ano atípico em que celebra 20 anos sobre a publicação do seu primeiro artigo científico, artigo esse que é o mais citado a nível mundial na área do doutoramento, poderá ter um reflexo positivo aquando da atualização do ranking em 2022.
